Дроздов Юрий Николаевич
  1. Ученая степень
    доктор физико-математических наук
  2. Научное направление
    Физико-математические науки
  3. Регион
    Россия / Нижегородская область

Старший научный сотрудник ИФМ РАН, доктор физ.-мат. наук. Родился 7 июля 1947 г., г. Киров, Россия. Научные интересы: Рентгеновская дифрактометрия эпитаксиальных структур. Механизмы формирования и дефектообразование в эпитаксиальных слоях. Образование: 1970 г. – окончил физический факультет Горьковского государственного университета им. Н.И.Лобачевского; 1974 г. – защитил кандидатскую диссертацию "Современные методы анализа функции Патерсона. Расшифровка кристаллических структур минерала вуоннемита и двух синтетических ванадатов серебра". Профессиональная карьера: 1970 – 1972 – младший научный сотрудник Горьковского исследовательского физико-технического института (ГИФТИ при ГГУ); 1972 – 1978 – старший научный сотрудник ГИФТИ;1978 – 1992 – зав. лабораторией ГИФТИ; 1992 – 1994 – с.н.с. Института прикладной физики РАН; с 1994 – с.н.с. Института физики микроструктур РАН.

Научные публикации

Расшифровка кристаллических структур фенаксита и иннелита методом кратных пиков. Кристаллография, 1971, т.16, №4, с.6. В.П.Головачев, Ю.Н.Дроздов, Э.А.Кузьмин, В.В.Илюхин, Н.В.Белов.

Исследование гетероэпитаксиальных структур GexSi1–x/Si полученных в вакууме. Изв. АН СССР. Сер. "Неорг. матер." 1990, т.26, в.8, с.4. Л.Н.Абросимова, Ю.Н.Дроздов, Т.С.Кунцевич, В.А.Толомасов.

О триклинной деформации псевдоморфных слоев на подложках с разориентированным срезом. Кристаллография, 1993, т.38, в.3, с.3. Ю.Н.Дроздов.

Стpуктуpа и тpанспоpтные свойства свеpхтонких пленок YBaCuO. Письма в ЖЭТФ 1996, т.63, вып.8, с.608. А.В.Ваpганов, Е.А.Вопилкин, П.П.Вышеславцев, Ю.Н.Дроздов, Ю.Н.Ноздpин, С.А.Павлов, А.Е.Паpафин, В.В.Таланов.

Слои фуллерена С60 на слюде и сапфире. Поверхность, 1997, вып.3, с.8. Ю.Н.Дроздов, Е.Б.Клюенков, Н.Е.Лентовская, Л.А.Мазо, Л.А.Суслов.

Рентгеновская дифрактометрия 10 нм – пленок YBa2Cu3O7–d. Поверхность. РСНИ, 1998, вып.10, с.13. Ю.Н.Дроздов, Л.Д.Молдавская, А.Е.Парафин.

Рентгенооптическая схема для дифракционного исследования полупроводниковых квантовых слоев и точек. Поверхность. РСНИ, 2000, 1, с.136. Ю.Н.Дроздов, Л.Д.Молдавская, В.М.Данильцев, О.И.Хрыкин, А.В.Новиков, В.В.Постников.

Динамическое рассеяние рентгеновских лучей на многослойных эпитаксиальных структурах. Физика твердого тела: Лабораторный практикум. Под ред проф. А.Ф.Хохлова. Том1. Нижний Новгород. ННГУ, 2000. С.169. Ю.Н.Дроздов, Л.Д.Молдавская.

Модуляция большеугловых рентгеновских дифракционных отражений сверхпериодом рентгеновских зеркал и полупроводниковых многослойников. Поверхность. РСНИ, 2003, №2, с. 67. Ю.Н.Дроздов, С.А.Гусев, Е.Н.Садова, В.М.Данильцев, О.И.Хрыкин, В.И.Шашкин.

Сегрегация индия при выращивании квантовых ям InGaAs/GaAs в условиях газофазной эпитаксии. ФТП, 2003, Т.37, №2, С.203. Ю.Н Дроздов, Н.В. Байдусь, Б.Н. Звонков, М.Н. Дроздов, О.И. Хрыкин, В.И. Шашкин.


Последняя редакция анкеты: 21 июня 2010