- Зарегистрированы и исследованы рентгеновские спектры многозарядных ионов лазерной плазмы различных элементов (Az=6÷74) в широком спектраль-ном интервале (=1,5÷200 Å) и в широком диапазоне лазерных параметров и ус-ловий фокусировки: с плотностью потока лазерного излучения на мишени от 7
- 1012 до 1018 Вт/см2, с длительностью импульса от 80 фс до 30 нс, с энергией в импульсе от нескольких мДж до ~ 20 Дж. По этим спектрам проведена диагно-стика плазмы: определение температуры Те и плотности Nе электронов в диапа-зонах: Те=(60 ÷ 1400) эВ и Nе=(1019 ÷ 1021) см3, а также количественные (абсо-лютные) измерения интенсивности, спектральной плотности излучения и ярко-сти источника.
- Экспериментально показано, что температура электронов в плазме, создаваемой при замыкании в конечном анод-катодном промежутке сильно-точного импульсного генератора -Z-Machine‖ (Sandia National Laboratories), составляет Те=(200 40) эВ. Для этих измерений разработан новый спектро-скопический метод определения электронной температуры плазмы тяжелых элементов, который основан на сравнении исследуемых спектров со спектра-ми хорошо диагностируемой лазерной плазмы.
- При взаимодействии факела высокотемпературной лазерной плазмы с поверхностью твердого тела возникает интенсивное рентгеновское излучение в линиях многозарядных ионов. Излучение в приповерхностной области связа-но с трехчастичной рекомбинацией электронов на высокие уровни и последую-щим каскадированием за счет радиационных и столкновительных процессов. Эти процессы приводят к инверсной заселенности между возбужденными уров-нями многозарядных ионов.
- Разработан рентгеновский фокусирующий спектрометр с вертикальной фокусировкой, который абсолютно откалиброван по чувствительности, обладает высоким спектральным разрешением (2000) и имеет область регистрации спектра ~1,5-10 Å. С применением в этой схеме новых многослойных структур в качестве дисперсионных элементов диапазон регистрации расширен в сторону ВУФ излучения (до ~40 Å) и достигнута светосила, в 40 раз превышающая све-тосилу традиционных для этой области спектра дифракционных спектрометров с решетками скользящего падения.
34
2. * Шевелько, А.П. Светосильный рентгеновский спектрограф с вертикальной фокусировкой для исследования лазерной плазмы / А.П. Шевелько // Кванто-вая электроника. 1977. Т. 4. С. 2013-2015.
3. * Горбунов, Л.М. Спектрально-временные измерения излучения рассеянного назад лазерной плазмой / Л.М. Горбунов, Ю.С. Касьянов, В.В. Коробкин, А.Н. Поляничев, А.П. Шевелько // Письма ЖЭТФ. 1978. Т. 27. С. 242-246.
4. * Beigman, I.L. On the Ionization Equilibrium in High-temperature Plasmas / I.L. Beigman, B.N. Chichkov, M.A. Mazing, A.P. Shevelko, A.M. Urnov // Physica Scripta. 1981. V. 23, № 1. P. 236-240.
5. Горбунов, Л.М. Исследование рассеяния света в лазерной плазме / Л.М.Горбунов, Ю.С.Касьянов, В.В.Коробкин, А.Н.Поляничев, А.П.Шевелько // Препринт ФИАН №126, Москва, 1979. - 40 с.
6. * Chichkov B.N. On experimental study of the dielectronic recombination rate / B.N. Chichkov, M.A. Mazing, A.P. Shevelko, A.M. Urnov // Phys. Lett. 1981. V. 83A, № 1. P. 401-403.
7. * Мазинг, М.А. Зависимость коэффициента контрастности фотопленки УФ-ВР от длины волны рентгеновского излучения (=2,6-11 Å) / М.А. Мазинг, B.В. Мольков, А.П. Шевелько, М.Р. Шпольский // ПТЭ. 1981. № 5. С. 188-190.
8. * Пресняков, Л.П. Интенсивное рентгеновское излучение при взаимодействии факела лазерной плазмы с поверхностью твердого тела / Л.П. Пресняков, А.П. Шевелько // Письма ЖЭТФ. 1982. Т. 36. С. 38-40.
9. * Вайнштейн, Л.А. Длины волн и энергии уровней диэлектронных сателлитов линий главной серии гелиеподобных ионов / Л.А. Вайнштейн, М.А. Мазинг, А.П. Шевелько // Крат. сообщ. физ. ФИАН. 1983. № 1. С. 41-46.
10. Пироговский, П.Я. Пространственно-временная структура излучения при взаимодействии факела лазерной плазмы с поверхностью твердого тела / П.Я. Пироговский, А.П. Шевелько // Препринт ФИАН № 82, Москва, 1984. – 24 с.
11. * Mazing, M.A. Interaction of a laser produced plasma with a solid surface / M.A. Mazing, P.Ya. Pirogovski, A.P. Shevelko, L.P. Presnyakov // Phys. Rev. 1985. V. A32. P. 3695-3698.
12. * Мазинг, М.А. Спектры гелиеподобных ионов СаXIX и TiXXI в лазерной плазме. I. Длины волн сателлитных линий / М.А. Мазинг, А.М. Панин, А.П. Шевелько // Оптика и спектроскопия. 1985. Т. 59. С. 962-966.
13. * Киркин, А.Н. Регистрация линейчатых рентгеновских спектров лазерной плазмы в области 1-10 Å с помощью ПЗС / А.Н. Киркин, Р.Г. Мирзоян, П.Я.
35
Пироговский, А.П. Шевелько // Краткие сообщения по физике ФИАН. 1986. № 1. С. 26-27.
14. * Мазинг, М.А. Спектры гелиеподобных ионов СаXIX и TiXXI в лазерной плазме. II. Интенсивности диэлектронных сателлитов / М.А. Мазинг, А.М. Панин, А.П. Шевелько // Оптика и спектроскопия. 1986. Т. 60. С. 910-915.
15. Пироговский, П.Я. Интенсивное рентгеновское излучение многозарядных ионов лазерной плазмы, взаимодействующей с преградой / П.Я. Пироговский, Л.П. Пресняков, А.П. Шевелько // В сб. ―Первый советско-британский симпо-зиум по спектроскопии многозарядных ионов‖, Троицк, 1986. - C. 45-46.
16. Мазинг, М.А. Ионизационный состав лазерной плазмы / М.А. Мазинг, А.П. Шевелько // Труды ФИАН. 1987. Т. 179. С. 3-14.
17. Мазинг, М.А. Спектры гелиеподобных ионов СаXIX и TiXXI в лазерной плазме / М.А. Мазинг, А.П. Шевелько // Труды ФИАН. 1987. Т. 179. С. 15-38.
18. * Арцимович, В.Л. Формирование направленного интенсивного ВУФ излу-чения из лазерной плазмы / В.Л. Арцимович, С.В. Гапонов, Ю.С. Касьянов, Б.М. Лускин, Н.Н. Салащенко, И.И. Собельман, А.П. Шевелько // Письма ЖЭТФ. 1987. Т. 46. С. 311-314.
19. * Пироговский, П.Я. Пространственно-временная структура рентгеновского излучения в области взаимодействия лазерной плазмы с поверхностью твер-дого тела / П.Я. Пироговский, А.П. Шевелько // Краткие сооб. физ. ФИАН. 1988. № 4. С. 45-47.
20. Васильев, А.А. Спектроскопические исследования факела лазерной плазмы с помощью многослойных интерференционных зеркал / А.А. Васильев, С.Е. Смирнов, А.П. Шевелько // XX Всесоюзный съезд по спектроскопии. Тезисы докладов.1988. Часть I.– Киев: Изд. Наукова думка, 1988. - C. 36.
21. * Beigman, I.L. Interaction of a laser-produced plasma with a solid surface: soft x-ray spectroscopy of high-Z ions in a cool dense plasma / I.L. Beigman, P.Ya. Pi-rogovskiy, L.P. Presnyakov, A.P. Shevelko, D.B. Uskov // J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 1989. V. 22. P. 2493-2502.
22. * Васильев, А.А. Многослойные зеркала нормального падения для экстре-мального ультрафиолетового излучения / А.А. Васильев, С.В. Гапонов, С.А. Гусев, В.В. Дубров, И.Г. Забродин, А.И. Кузьмичев, Б.М. Лускин, Н.Н. Сала-щенко, В.А. Слемзин, И.И. Собельман, А.П. Шевелько // ЖТФ. 1990. Т. 60, вып. 5. С. 85-96.
36
23. * Gaponov, S.V. Normal-Incidence Multilayer Mirrors for the 120-450 Å Wave-length Region / S.V. Gaponov, S.A. Gusev, V.V. Dubrov, A.I. Kuzmichev, B.M. Luskin, N.N. Salashchenko, A.P. Shevelko, V.A. Slemzin, I.I. Sobelman, I.G. Zab-rodin // J. X-Ray Sci. Tech. 1990. V. 2. P. 241-248.
24. Bijkerk, F. Laser-Plasma XUV Sources, a Role for Excimer Lasers? / F. Bijkerk, A.P. Shevelko // Proc. SPIE. 1991. V. 1503. P. 380-390.
25. * Presnyakov, L.P. Soft X-ray spectroscopy of high-Z ions in a cool and dense plasma / L.P. Presnyakov, A.P. Shevelko, D.B. Uskov // Z. Phys D. -Atoms Mol. and Clusters. 1991. V. 21. P. 157-158.
26. Пироговский, П.Я. Спектроскопия многозарядных ионов в плотной и хо-лодной плазме / П.Я. Пироговский, Л.П. Пресняков, Д.Б. Усков, А.П. Ше-велько // Труды ФИАН. 1991. Т. 215. С. 1-28.
27. * Bijkerk, F. Absolute Brightness of Laser Plasmas in the Soft X-Ray Emission Band / F. Bijkerk, E. Louis, G.E. van Dorssen, A.P. Shevel´ko, A.A. Vasilyev // Appl. Opt. 1994. V. 33. P. 82-88.
28. Bijkerk, F. Optimization of excimer-laser induced x-ray sources for x-ray projec-tion lithography / F. Bijkerk, L. Shmaenok, E. Louis, A.van Honk, M.J. van der Wiel, Yu.A. Platonov, A.P. Shevelko, A.V. Mitrofanov, F. Vo, R. Desor, H. Frowein, B. Nikolaus // Proc. SPIE. 1993. V. 2015. P. 128-131.
29. Bijkerk, F. Laser plasma source for soft X-ray projection lithography / F. Bijkerk, L. Shmaenok, A. van Honk, R. Bastiaensen, Yu.Ya. Platonov, A.P. Shevelko, A.V. Mitrofanov, F. Vo, R. Desor, H. Frowein, B. Nikolaus // J. Phys. III France. 1994. V. 4. P. 1669-1677.
30. * Shmaenok, L. Issues of laser plasma sources for soft x-ray projection lithography / L. Shmaenok, F. Bijkerk, E. Louis, A. van Honk, M.J. van der Wiel, Yu. Platonov, A. Shevelko, A. Mitrofanov, H. Frowein, B. Nikolaus, F. Vo, R. Desor // Microelectronic Engineering. 1994. V. 23. P. 211-214.
31. Shevelko, A.P. Interaction of a laser-produced plasma with a solid surface: spec-troscopy of multiply charged ions in a dense plasma / A.P. Shevelko, D.B. Uskov, L.P. Presnyakov // LLNL Tech.Rep. № B239717. 1994.
32. Shmaenok, L. Developments of a high-power, low-contamination laser plasma source for EUV lithography / L. Shmaenok, F. Bijkerk, C. Bruineman, R.K.F. Bas-tiaensen, A.P. Shevelko, D.M. Simanovskii, A.N. Gladskikh, S.V. Bobashev // Proc. SPIE. 1995. V. 2523. P. 113-121.
37
33. * Bijkerk, F. A high-power, low-contamination laser plasma source for Extreme UV lithography / F. Bijkerk, L.A. Shmaenok, A.P. Shevelko, R.K.F. Bastiaensen, C. Bruineman, A.G.J.R. van Honk // Microelectronic Engineering . 1995. V. 27. P. 299-301.
34. Ragozin, E.N. Laser-plasma source of polirized monochromatic beams in the XUV round multilayer mirrors / E.N. Ragozin, N.N. Kalachevskii, M.M. Mitropolskii, Yu.Yu. Pokrovskii, A.P. Shevelko, A.A. Vasil’ev, Yu.Ya. Platonov, N.N. Salashchenko // Proc. SPIE. 1995. V. 2520. P. 309-317.
35. * Васильев, А.А. Создание монохроматических поляризованных пучков мяг-кого рентгеновского излучения с использованием многослойной рентгенов-ской оптики / А.А. Васильев, М.М. Митропольский, Ю.Я. Платонов, Ю.Ю. Покровский, Е.Н. Рагозин, Н.Н. Салащенко, А.П. Шевелько // Квант. электр. 1995. Т. 22. С. 408-410.
36. * Шевелько, А.П. Абсолютные измерения в ВУФ области спектра с помо-щью люминесцентного детектора / А.П. Шевелько // Квантовая электроника. 1996. Т. 23. С. 748-750.
37. Shevelko, A.P. Intense Soft X-Ray Radiation Through a Laser Plasma-Wall Inter-action / A. Shevelko // Abstract of Papers, International Conference on Soft X-Rays in the 21st Century. 1997. Midway, Utah, January 8-11. P. 15.
38. Shevelko, A.P. X-ray spectroscopy of laser-produced plasmas using a von Hamos spectrograph / A.P. Shevelko // Proc. SPIE. 1998. V. 3406. P. 91-108.
39. * Baily, M. Characteristics of a multilayer mirror polarimeter for measurements at extreme ultraviolet wavelengths / M. Baily, R. Bruch, A. Shevelko, A. Vasilyev // Rev. Sci. Instrum. 1997. V. 68, № 1. P. 1051-1054.
40. Bijkerk, F. Extreme Ultraviolet Spectroscopy of a Laser Plasma Source for Li-thography / F.Bijkerk, A.P.Shevelko, L.A.Shmaenok, S.S.Churilov // Proc. SPIE. 1997. V. 3157. P. 236-240.
41. * Shevelko, A.P. Extreme Ultraviolet Spectroscopy of a Laser Plasma Source for Lithography / A.P. Shevelko, L.A. Shmaenok, S.S. Churilov, R.K.F. J. Bastiaen-sen, F. Bijkerk // Physica Scripta. 1998. V. 57. P. 276-282.
42. Shevelko, A.P. High efficiency hard x-ray spectrometer for sub-ps laser-produced plasma investigations / A.P. Shevelko // Proc. SPIE.1998. V. 3444. P. 679-682.
43. Wang, Q. Hollow Atoms by Laser Plasma-Wall Interaction / Q. Wang, L. Knight, A. Shevelko, J. Peatross // Abstracts of Papers of American Physical Society Four
38
Corners Section Fall 1998 Meeting, Provo, Utah, October 16-17, 1998. – Provo: BYU, 1998. - P. 29.
44. Knight, L. EUV spectroscopy of ultrafast capillary discharges / L. Knight, S. Tur-ley, C. Crawford, D. Hullinger, A. Shevelko, O. Yakushev, R. Miller // Proc. SPIE. 1999. V. 3767. P. 45-49.
45. Shevelko, A.P. A Focusing Crystal von Hamos Spectrometer for X-ray Spectros-copy and X-ray Fluorescence Applications / A.P. Shevelko, A.A. Antonov, I.G. Grigorieva, Yu.S. Kasyanov, L.V. Knight, A. Reyes-Mena, C. Turner, Q. Wang, O.F. Yakushev // Proc. SPIE. 2000. V. 4144. P. 148-154.
46. Turner, D.C. Focusing crystal von Hamos spectrometers for XRF applications / D.C. Turner, L.V. Knight, A. Reyes-Mena, P.W. Moody, H.K. Pew, J.D. Phillips, A.P. Shevelko, S. Voronov, O.F. Yakushev // Advances in X-ray analysis. 2000. V. 44. P. 329-335.
47. Shevelko, A.P. Absolute x-ray calibration of laser-produced plasmas using a CCD linear array and a focusing crystal spectrometer / A.P. Shevelko, L.V. Knight, Q. Wang, O.F. Yakushev // Proc. SPIE. 2001. V. 4504. P. 215-226.
48. Shevelko, A.P. Structure and Intensity of X-ray Radiation in a Laser Plasma–Wall Interaction / A.P. Shevelko, L.V. Knight, J.B. Peatross, Q. Wang // Proc. SPIE. 2001. V. 4505. P. 171-178.
49. Shevelko, A. X-ray focusing crystal von Hamos spectrometer with a CCD linear array as a detector / A. Shevelko, A. Antonov, I. Grigorieva, Yu. Kasyanov , O.Yakushev, L. Knight, Q. Wang // Adv. X-ray analysis. 2001. V. 45. P. 433-440.
50. Шевелько, А.П. Структура и интенсивность рентгеновского излучения при взаимодействии лазерной плазмы со стенкой / A.П. Шевелько, Л. Найт, К. Ванг // XXII съезд по спектроскопии. Тезисы докладов. Звенигород, Россия, 2001. - С. 241.
51. * Shevelko, A.P. Compact focusing von Hamos spectrometer for quantitative x-ray spectroscopy / A.P. Shevelko, Yu.S. Kasyanov, O.F. Yakushev, L.V. Knight // Rev. Sci, Instrum. 2002. V. 73, № 10. P. 3458-3463.
52. Shevelko, A.P. Formation of quasi-monochromatic soft x-ray radiation from laser-produced plasmas / A.P. Shevelko, I. Beigman, L.V. Knight // Proc. SPIE. 2002. V. 4781. P. 10-16.
53. * Шевелько, А.П. Спектральная аппаратура для проведения абсолютных из-мерений в ВУФ и мягкой рентгеновской областях спектра / А.П. Шевелько, О.Ф. Якушев // Поверхность. 2003. № 2. С. 51-55.
39
54. Shevelko, A.P. X-ray and EUV spectral instruments for plasma source characteri-zation / А.P. Shevelko, L.V. Knight, J. Phillips, R.S. Turley, C. Turner, O.F. Ya-kushev // Proc. SPIE. 2003. V. 5196. P. 282-288.
55. Шевелько, А.П. Новый источник рентгеновского излучения при взаимодей-ствии лазерной плазмы с поверхностью твердого тела / A.П. Шевелько // Ма-териалы совещания ―Рентгеновская оптика – 2003,‖ Нижний Новгород, ИФМ РАН, 11-14 марта 2003. - С. 79-84.
56. Шевелько, А.П. Взаимодействие лазерной плазмы с поверхностью твердого тела – новые возможности для рентгеновской спектроскопии / A.П. Шевелько // Тезисы докладов XVII конференции ―Фундаментальная aтомная спектро-скопия,‖ Звенигород, Россия, 1-5 декабря 2003 г. - С. 64-65.
57. * Шевелько, А.П. Новый источник рентгеновского излучения при взаимодей-ствии лазерной плазмы с поверхностью твердого тела / А.П. Шевелько // Из-вестия РАН. 2004. № 4. С. 507-511.
58. Agranat, M.B. Generation of hard x-rays by a forsterite terawatt laser / M.B. Agranat, N.E. Andreev, S.I. Ashitkov, E. Boyle, V.E. Fortov, L.V. Knight, A.V.Ovchinnikov, A.P. Shevelko, D.S. Sitnikov // Proc. SPIE. 2005. V. 5918. P. 0O 1-10.
59. Weeks, T. Absolute soft x-ray calibration of laser produced plasmas using a focus-ing crystal von Hamos spectrometer / T. Weeks, M. Harrison, M. Johnson, A. P. Shevelko, J. Ellsworth, S. Bergeson, M. Asplund, L. V. Knight // Proc. SPIE. 2005. V. 5918. P.OR 1-10.
60. * Агранат, М.Б. Генерация рентгеновского характеристического излучения с помощью тераваттного фемтосекундного хром-форстерит лазера / М.Б. Аг-ранат, Н.Е. Андреев, С.И. Ашитков, А.В. Овчинников, В.Е. Фортов, А.П. Ше-велько // Письма ЖЭТФ. 2006. Т. 83, вып. 2. С. 80-83.
61. Шевелько, А.П. Методы фемтосекундной диагностики плазмы / A.П. Ше-велько // Препринт ФИАН №35, Москва, 2006. - 62 с.
62. * Шевелько, А.П. Методы фемтосекундной диагностики плазмы / А.П. Ше-велько.- Энциклопедия низкотемпературной плазмы. Том V-1, серия Б, ―Ди-агностика низкотемпературной плазмы.‖ Часть I. Под. Ред. В.Н.Колесникова, 2007. С.45-70.
63. Шевелько, А.П. ВУФ спектроскопия плазмы, создаваемой в конечном анод-катодном промежутке сильноточного импульсного генератора ―Z-Machine‖ (SNL) / А.П. Шевелько, С.Н. Андреев, Д.Е. Блисс, М.Г. Мазаракис, Д.С. Мак-
40
Гарн, К.В. Струве, Е.Д. Казаков, Л.В. Найт, И.Ю. Толстихина, Т. Уикс // Пре-принт ФИАН № 22, Москва, 2007. – 48 с.
64. * Бороздин, Ю.Э. Рентгеновская и вакуумно-ультрафиолетовая спектроско-пии плазмы с использованием новых фокусирующих многослойных структур / Ю.Э. Бороздин, Е.Д. Казаков, В.И. Лучин, Н.Н. Салащенко, И.Ю. Толстихи-на, В.В. Чернов, Н.И. Чхало, А.П. Шевелько, О.Ф. Якушев // Письма в ЖЭТФ. 2008. Т. 87, вып. 1. С. 33-35.
65. * Ivanov, V.V. Mitigation of the Plasmas-Implosion Inhomogeneity in Starlike Wire-Array Z Pinches / V.V. Ivanov, V.I. Sitnikov, A. Haboub, A.P. Shevelko, A.L. Astanovitskiy, A. Morozov, E.D. Kazakov, S. Altemara // Phys. Rev. Lett. 2008. V. 100. P. 025004 1-4.
66. * Бибишкин, М.С. Новые фокусирующие многослойные структуры для рентгеновской спектроскопии плазмы / М.С. Бибишкин, Е.Д. Казаков, В.И. Лучин, Н.Н. Салащенко, В.В. Чернов, Н.И. Чхало, А.П. Шевелько // Кванто-вая электроника. 2008. Т. 38, вып. 2. С. 169-171.
67. * Шевелько, А.П. ВУФ спектроскопия плазмы, создаваемой в конечном анод-катодном промежутке сильноточного импульсного генератора ―Z-Machine‖ (SNL) / А.П. Шевелько, Д.Е. Блисс, Е.Д. Казаков, М.Г. Мазаракис, Д.С. МакГарн, Л.В. Найт, К.В. Струве, И.Ю. Толстихина, Т. Уикс // Физика плазмы. 2008. Т. 34, вып. 11. С. 1021-1032.
68. Bergeson, S. EUV Transmission Grating Spectrometer for Absolute Intensity Measurements from 2 to 250 nm / Bergeson, N. Gray, M. Harrison, L. Knight, O. Yakushev and A. Shevelko // Workshop Agenda and Abstracts of 2008 Interna-tional Workshop on EUV Lithography, Maui, Hawaii, June 10-12, 2008 - P.38.
69. Bergeson, S. EUV Spectrometers for Source Development, Characterization, and Optimization / S. Bergeson, B. Allred, N. Gray, L. Knight, A. Shevelko // Book of Abstracts of 2008 International Symposium on Extreme Ultraviolet Lithography, Lake Tahoe, California, September 28-October 1, 2008. - P.82.
70. Якушев,О. ВУФ спектрометр с пропускающей решеткой для абсолютных из-мерений интенсивностей в экстремально широком диапазоне спектра (=2-250 нм) / О. Якушев, А. Шевелько, С. Бергесон, Н. Грэй, М. Харрисон, Л. Найт // Материалы совещания ―Рентгеновская оптика – 2008‖, 6-9 октября 2008, Черноголовка, Россия, 2008. - С. 84-85.
71. * Ivanov, V.V. Implosion dynamics and x-ray generation in small-diameter wire-array Z pinches / V.V. Ivanov, V.I. Sotnikov, J.M. Kindel, P. Hakel, R.C. Mancini,
41
A.L. Astanovitskiy, A. Haboub, S.D. Altemara, A.P. Shevelko, E.D. Kazakov, P.V. Sasorov // Phys. Rev. E . 2009. V. 79. P. 056404 1-13.
72. Шевелько, А.П. Люминесцентные детекторы на основе ПЗС и ВОД / А.П. Шевелько, О.Ф. Якушев // Труды XIII Международного Симпозиума ―Нано-физика и наноэлектроника,‖ 16-20 марта 2009 г. - Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2009. – Т.1. - С. 229.
73. Салащенко, Н.Н. Новые методы ВУФ диагностики плазмы тяжелых элемен-тов и перспективы использования многослойных структур для рентгеновской спектроскопии (обзор) / Н.Н. Салащенко, А.П. Шевелько // Труды XIII Ме-ждународного Симпозиума ―Нанофизика и наноэлектроника,‖ 16-20 марта 2009 г. - Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2009. – Т.1. - С. 44-45.
74. * Шевелько, А.П. Новый спектроскопический метод измерения температуры плазмы тяжелых элементов / А.П. Шевелько // Вестник Поморского Универ-ситета. Сер. ―Естественные науки. 2009. №4, С. 110-113.
75. Лопатин,А.Я. Рентгенооптические характеристики фокусирующих много-слойных структур / А.Я. Лопатин В.И. Лучин, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало, А.П. Шевелько, О.Ф. Якушев // Труды XIV Международного Симпозиума ―Нанофизика и наноэлектроника,‖ 15-19 марта 2010. - Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2010. – Т.1. - С. 79-80.