Научная тема: «СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ И СПЕКТРОСКОПИЯ НАНОСТРУКТУР НА ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛА МЕДИ»
Специальность: 01.04.07
Год: 2010
Основные научные положения, сформулированные автором на основании проведенных исследований:
  1. Алгоритм компенсации линейных искажений СТМ изображений и калибровки микроскопа позволяет проводить измерения межатомных расстояний для неизвестных атомарных структур с точностью до 5% (или ≈0,01 нм) по трем пространственным направлениям. Алгоритм применим к любым зондовым сканирующим микроскопам.
  2. Обнаружена двумерная сегрегация фуллеренов С60 на доменных границах массивов С70 для соразмерного монослоя (4х4) смеси С60(x)/C70(1-x) с x=0,06 на поверхности Cu(111), происходящая из-за механического напряжения в пленке фуллеренов. При изменении пропорции смеси (при х=0,3) зарегистрирована остановка теплового вращения большинства молекул С70 и впервые в СТМ изображении получена внутримолекулярная электронная структура фуллерена С70.
  3. Для несоразмерной системы Ag/Cu(111) создана модель превращений атомной структуры поверхности, состоящей из одного или двух слоев серебра и верхнего слоя подложки, в зависимости от температурного режима подготовки системы путем сопоставления спектров поверхностных состояний с атомно-разрешенными СТМ изображениями поверхности.
  4. Построенная теоретическая модель объясняет экспериментальную зависимость энергии поверхностных состояний Е0 при равном нулю волновом векторе от количества слоев Ag (1 ÷ 20), нанесенных на поверхность Cu(111) при температуре 300 К.
  5. Способ создания стабильных при 300 К металлических наноостровков, высотой в один атомный слой, путем напыления меди при 100 К на несоразмерную структуру монослоя Ag/Cu(111) с сетью петлевых дислокаций в интерфейсе, при этом сеть дислокаций играет роль шаблона при зарождении и росте островков.
Список опубликованных работ
Д1. Юров В.Ю., Ельцов К.Н., Черкез В.В., Андрюшечкин Б.В. Образование наноостровков при осаждении меди на поверхность Cu(111)-(9×9)-Ag // Письма в ЖЭТФ - 2007. - Т.86 - С.35-40.

Д2. Klimov A.N., Yurov V.Y. Local Scanning Tunneling Spectroscopy of Ultrathin CuI Film // Phys. Low-Dim. Struct - 2004. - V.3/4 - P.143-152

Д3. Bendounan A., Cercellier H., Kierren B., Fagot-Revurat Y., Yurov V.Y., Malterre D. Monitoring the Local Atomic Structure by Surface States Spectroscopy // Europhysics Letters - 2003. - V.64 - P.392-398.

Д4. Bendounan A., Cercellier H., Fagot-Revurat Y., Kierren B., Yurov V.Y., Malterre D. Interplay between Surface and Electronic Structures in Epitaxial Ag Ultra Thin Films on Cu(111) // Appl. Surf. Sci. - 2003. - V.212 - P.33-37.

Д5. Ельцов К.Н., Климов А.Н., Косяков А.Н., Объедков О.В., Шевлюга В.М., Юров В.Ю. Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300. // Труды ИОФАН, М.: Наука, - 2003. - Т.59 - С.45-63.

Д6. Bendounan A., Cercellier H., Fagot-Revurat Y., Kierren B., Yurov V.Y., Malterre D. Modification of Shockley States Induced by Surface Reconstruction in Epitaxial Ag Films on Cu(111) // Physical Review B - 2003. - V.67 - P.1-10 /аrt.№ 165412

Д7. Bendounan A., Cercellier H., Fagot-Revurat Y., Kierren B., Yurov V.Y., Malterre D. Confinement of Shockley States in Ultra Thin Films of Ag on Cu(111) // Thin Solid Films - 2003. - V.428 - P.119-122.

Д8. Yurov V.Y., Bendounan A., Kierren B., Revurat Y.F., Bertran F., Malterre D. STM/STS and ARPES Study of Surface States in Ag Submonolayer on Cu(111) // Physics of Low-Dimensional structures - 2001. - V.11/12 - P.155- 165.

Д9. Bendounan A., Revurat Y.F., Kierren B., Bertran F., Yurov V.Y., Malterre D., Surface State in Epitaxial Ag Ultrathin Films on Cu(111) // Surface Science - 2002. - V.496 - P.L43-L49.

Д10. Kierren B., Bendounan A., Cercellier H., Revurat Y.F., Bertran F., Yurov V.Y., Malterre D. Investigation of Shockley States in Ultra Thin Films of Ag on Cu(111): STM, STS and ARPES Measurements // Physics of Low-Dimensional structures - 2001. - V.11/12 - P.167-177.

Д11. Образцова Е.Д., Юров В.Ю., Шевлюга В.М., Барановский Р.Е., Налимова В.А., Кузнецов В.Л., Зайковский В.И. Исследование методами СТМ и ПЭМВР листового материала из одностенных углеродных нанотрубок // Поверхность - 2000 - N7. - - С. 26-30.

Д12. Obraztsova E.D., Yurov V.Y., Shevluga V.M., Baranovsky R.E., Nalimova V.A., Kuznetsov V.L., Zaikovskii V.I. Structural Investigations of Close-Packed Single-Wall Carbon Nanotube Material // Nanostructured Materials - 1999. - V.11 - P.295-306.

Д13. Wang X.D., Hashizume T., Yurov V.Y., Xue Q.K., Shinohara H., Kuk Y., Nishina Y., Sakurai T. Two-Dimensional Domain Boundary Segregation of C60 in Cu(111)4x4-C60/C60 Phase // Zeitschrift Fur Physikalische Chemie- International Journal of Research in Physical Chemistry & Chemical Physics - 1997. - V.202 - P.117-125.

Д14. Eltsov K.N., Shevlyuga V.M., Yurov V.Yu., Kvit A.V.., Kogan М.S. Sharp Tungsten Tips Prepared for STM Study of Deep Nanostructures in UHV // Phys.Low-Dim.Struct - 1996. - V.9/10 - P.7−15.

Д15. Eltsov K.N., Klimov A.N., Priadkin S.L., Shevlyuga V.M., Yurov V.Y. Ultra High Vacuum STM for Chemical Surface Reactions Study and Nanotechnology // Physics of Low-Dimensional Structures - 1996. - V.7/8 - P.115-126.

Д16. Sakurai T., Wang X.D., Hashizume T., Yurov V., Shinohara H., Pickering H.W. Adsorption of Fullerenes on Cu(111) and Ag(111) Surfaces // Appl. Surf. Sci. - 1995. - V.87-8 - P.405-413.

Д17. Eltsov K.N., Klimov A.N., Yurov V.Y., Bardi U., Galeotti M., Shevlyuga V.M., Prokhorov A.M. Surface Atomic-Structure Upon Cu(100) Chlorination Observed by Scanning-Tunneling-Microscopy // Письма в ЖЭТФ - 1995. - Т.62 - С.431-437.

Д18. Юров В.Ю., Климов А.Н. Восстановление истинного СТМ изображения поверхности с учетом дрейфа, наклона образца и калибровки керамики СТМ // Труды ИОФАН; Т.49, Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах. М.: Наука., 1995, - С. 5-19.

Д19. Wang X.D., Yurov V.Y., Hashizume T., Shinohara H., Sakurai T. Imaging of C-70 Intramolecular Structures with Scanning Tunneling Microscopy // Physical Review B - 1994. - V.49 - P.14746-14749.

Д20. Yurov V.Y., Klimov A.N. Scanning Tunneling Microscope Calibration and Reconstruction of Real Image - Drift and Slope Elimination // Review of Scientific Instruments - 1994. - V.65 - P.1551-1557. Д21. Yurov V.Y., Klimov A.N. Correction of Drift and Slope Distortions in STM Image and Scanner Calibration // Surface and Interface Analysis - 1994. - V.22 - P.84-88.