- Многоэлементные твердотельные детекторы большого размера (многокристальные сборки) для решения современных задач атомно-эмиссионного анализа могут быть построены на основе бескорпусных линеек фотодиодов с односторонними выводами контактов и гибкими полиамидными шлейфами путём размещения линеек на едином термостабилизированном основании.
- Температурный дрейф атомно-эмиссионного спектра относительно фотоячеек многокристальной сборки компенсируется с помощью 2-3 реперных спектральных линий.
- Светосила вогнутых дифракционных решёток может быть измерена путём сопоставления интегральных интенсивностей одних и тех же спектральных линий, полученных многокристальной сборкой с помощью исследуемой и «эталонной» решёток, освещённых стабильным источником излучения линейчатого спектра со щелью на выходе, установленным в соответствии с передним отрезком и углом падения излучения на решётку.
- Многоканальные оптические спектрометры позволяют решать задачи количественного, полуколичественного и качественного атомно-эмиссионного анализа, изучать процессы изменения интенсивности спектральных линий во времени, снизить пределы обнаружения элементов и получать результаты анализа, удовлетворяющие требованиям отечественных и международных стандартов.
2.Лабусов В.А., Селюнин Д.О., Зарубин И.А., Галлямов Р.Г. Измерение квантовой эффективности многоэлементных фотодетекторов в спектральном диапазоне 180-800 нм // Автометрия. 2008. Т. 44, № 1. С. 27-38.
3.Лабусов В.А., Бехтерев А.В. Линейки фотодиодов - базовые элементы многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 7-12.
4.Лабусов В.А., Плеханова И.В., Финогенов Л.В. Исследование апертурных характеристик фотодиодных линеек // Автометрия. 1989. № 5. С. 112-117.
5.Лабусов В.А., Попов В.И., Бехтерев А.В., Путьмаков А.Н., Пак А.С. Многоэлементные твердотельные детекторы излучения большого размера для атомно-эмиссионного спектрального анализа // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9, № 2. С. 104-109.
6.Лабусов В.А. Многокристальные сборки многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 13-17.
7.Заксас Б.И., Корякин А.Б., Попов В.И., Лабусов В.А., Рязанцева Н.П., Шелпакова И.Р. Многоканальный анализатор атомно-эмиссионных спектров // Заводская лаборатория. 1994. Т. 60, № 9. С. 20-22.
8.Пат. 30433 Рос. Федерация. Атомно-эмиссионный многоканальный спектрометр / А. В. Бехтерев, В. А. Лабусов, В. И. Попов, А. Н. Путьмаков; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»: № 2002118918/20; заявл. 17.07.2002. опубл. 27.06.2003. Бюл. № 18. 1 с.
9.Лабусов В.А., Попов В.И., Путьмаков А.Н., Бехтерев А.В., Селюнин Д.О. Анализаторы МАЭС. Новые разработки // Материалы VI Межд. симп. «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2005. С. 13-15.
10.Лабусов В.А., Попов В.И., Путьмаков А.Н., Бехтерев А.В., Селюнин Д.О. Анализаторы МАЭС и их использование в качестве систем регистрации и обработки атомно-эмиссионных спектров // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9, № 2. С. 110-115.
11.Лабусов В.А., Селюнин Д.О., Петроченко Д.В., Баглай Ю.А., Зарубин И. А. Калибровка измерительных каналов анализатора МАЭС // Материалы IX Межд. симп. «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2008. С. 4-18.
12.Путьмаков А.Н., Попов В.И., Лабусов В.А., Борисов А.В. Новые возможности модернизированных спектральных приборов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 26-28.
13.Пат. 2168708 Рос. Федерация. Способ освещения входной щели спектрального прибора / А.В. Бехтерев, В.А. Лабусов, В.И. Попов, А.Н. Путьмаков; № 2000104015/28; заявл. 21.02.2000. опубл. 10.06.2001. Бюл. № 16.
14.Лабусов В.А., Михайлов А.В. Исследование характеристик новой дифракционной решетки // Материалы IV Межд. симп. «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2003. С. 10-12.
15.Лабусов В.А., Путьмаков А.Н., Бехтерев А.В. Новый многоканальный спектрометр для атомно-эмиссионного спектрального анализа в диапазоне длин волн 190-450 нм // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9, № 2. С. 135-140.
16.Лабусов В.А., Путьмаков А.Н., Саушкин М.С., Зарубин И.А., Селюнин Д.О. Многоканальный спектрометр «Колибри-2» и его использование для одновременного определения щелочных и щелочноземельных металлов методом пламенной фотометрии // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 35-39.
17.Пат. 81800 Рос. Федерация. Многоканальный спектрометр / В. А. Лабусов, А.С. Пак, И.А. Зарубин; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»: № 2008144376/22; заявл. 10.11.2008; опубл. 27.03.2009. Бюл. № 9. 2 с.
18.Пат. 81320 Рос. Федерация. Спектрометр / В.А. Лабусов, И.А. Зарубин, М.С. Саушкин; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»: № 2008144374/22; заявл. 10.11.2008. опубл. 10.03.2009. Бюл. № 7. 2 с.
19.Лабусов В.А. Комплексы приборов для атомно-эмиссионного спектрального анализа на основе спектрометра «Гранд» // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74, № 4. С. 21-29.
20.Пат. 2298889 Рос. Федерация. Двухструйный дуговой плазмотрон для атомно-эмиссионного спектрального анализа / В.А. Герасимов, В.А. Лабусов, М.С. Саушкин; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»: № 2006105035/28; заявл. 17.02.2006. опубл. 10.05.2007. Бюл. № 13. 6 с.
21.Лабусов В.А., Кайдалов С.А., Щербакова О.И. Комплекс приборов с анализатором МАЭС для атомно-эмиссионного анализа как информационно-измерительная система // Материалы VI Межд. симп. «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2005. С. 16-20.
22.Лабусов В.А., Кайдалов С.А., Щербакова О.И., Кошеров В.В. Метрологическое обеспечение комплексов приборов для атомноэмиссионного спектрального анализа с анализаторами МАЭС // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 40-46.
23.Лабусов В.А. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров МАЭС и их использование в криминалистике // Теория и практика судебной экспертизы. 2008. № 2 (10). С. 172-184.
24.Лабусов В.А., Михляев С.В., Твердохлеб П.Е. Опыт параллельного вычисления логических функций неравнозначности оптико-электронным способом // Автометрия. 1989. № 5. С. 120-124.
25.Ленкова Г.А., Коронкевич В.П., Искаков И.А., Косых В.П., Лабусов В.А. Исследование оптического качества интраокулярных линз // Автометрия. 1997. № 3. С. 18-29.
26.Заякина С.Б., Аношин Г.Н., Лабусов В.А. Спектроскопический способ определения масс частиц золота и концентрации элементов в каждой частице пробы при введении в факел двухструйного плазмотрона // Сб. тр. V Межд. симп. по теоретической и прикладной плазмохимии, Иваново, 2008. Т. 2. С. 518-521.
27.Заякина С.Б., Аношин Г.Н., Лабусов В.А., Веряотин А.Ф. Исследование геохимических объектов на новой универсальной установке с двумя способами регистрации эмиссионного спектра: сцинтилляционным и интегральным // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 100-106.
28.Пат. 2357233 Рос. Федерация. Способ одновременного определения распределения частиц по массе в дисперсной пробе и концентрации элементов в частице пробы / С.Б. Заякина, В.А. Лабусов, Г.Н. Аношин, А.Н. Путьмаков; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»: № 2007124240/28; заявл. 27.06.2007. опубл. 27.05.2009. Бюл. № 15. 14 с.
29.Кнорре В.Д., Маркушин Ю.Я., Лабусов В.А., Попов В.И., Денисов А.Ю., Кнорре Д.Г. Превращение N - (4-азидофенил) - 1,2-диаминоэтана в 6 -аминохиноксалин при облучении. Динамика процесса // Доклады РАН. 1999. Т. 368, № 4. С. 489-491.
30.Pen E.F., Shelkovnikov V.V., Goulanian E.H., Kostrov N.A., Labusov V.A. The method for the research of the dynamics of the spectral characteristics of the reflection holograms in photopolymer materials // Proc. of SPIE. 2002. V. 4900. P. 957-961 (Метод исследования динамики спектральных характеристик отражательных голограмм в фотополимерных материалах).