- Методология автоматизации тестопригодного проектирования смешанных ИС, обеспечивающая формирование тестов и выбор тестовых механизмов одновременно для цифровой и аналоговой подсхем.
- Подход к выбору тестового решения для аналоговых и смешанных ИС, основанный на модели оценки стоимостных затрат на организацию и проведение тестирования.
- Стоимостная модель оценки затрат на процесс производства ИС с выполнением тестирования на разных стадиях реализации - до корпусирования и/или после корпусирования ИС.
- Стоимостная модель оценки затрат на организацию и проведение тестирования смешанных ИС, используемая при выборе тестовой структуры для цифровой и аналоговой подсхем смешанной ИС.
- Алгоритм оптимального размещения кристаллов ИС на кремниевой пластине.
- Методика автоматизированного проектирования тестирующих подсхем для встроенного самотестирования аналоговых подсхем, основанная на реконфигурировании оригинальной схемы в автогенератор.
- Методика реализации справочника неисправностей для аналоговой и цифровой подсхем на основе искусственной нейронной сети для проведения функционального тестирования.
- Структурные решения внутрисхемного тестирования аналоговых и цифровых подсхем смешанной ИС, оформленные в виде библиотеки.
1.Ланцов, В. Н. Современные подходы к проектированию и тестированию интегральных микросхем [Текст] : монография / В. Н. Ланцов, С. Г. Мосин. – Владимир : Изд-во Владим. гос. ун-та, 2010. – 285 с. – ISBN 978-5-9984-0120-6.
2.Мосин, С. Г. Тестопригодное проектирование ИС и электронных устройств [Текст] : учеб. пособие / С. Г. Мосин – Владимир : Изд-во Владим. гос. ун-та, 2009. – 228 с. – ISBN 978-5-89368-927-3.
3.Mosin, S. G. Handbook of Testing Electronic Systems. Chapter 6: Analog Test and Diagnosis [Text] / S.G. Mosin. – Czech Technical University Publishing House, 2005. – pp. 302 – 331. – ISBN 80-01-03318-X.
Статьи в отечественных изданиях, рекомендованных ВАК
4.Мосин, С. Г. Подсистема САПР тестопригодного проектирования аналоговых схем [Текст] / С. Г. Мосин // Изв. вузов. Электроника. – 2002. – № 3. – С. 67 – 73. – ISSN – 1561-5405.
5.Мосин, С. Г. Маршрут проектирования цифровых ЗИС в САПР Mentor Graphics [Текст] / С. Г. Мосин, В. С. Кухарук, С. В. Федоров // Проектирование и технология электронных средств. – 2006. – № 1. – С. 9–12. - ISSN 2071-9809.
6.Мосин, С. Г. Анализ методов тестопригодного проектирования аналоговых и смешанных ИС [Текст] / С. Г. Мосин // Изв. вузов. Электроника. – 2007. – № 1. – С. 59–64.
7.Мосин, С. Г. Анализ методов встроенного самотестирования аналоговых и смешанных интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Изв. вузов. Электроника. – 2007. – № 2. – С. 85–90. – ISSN – 1561-5405.
8. Мосин, С. Г. Структурные решения тестопригодного проектирования за казных интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Информационные технологии. – 2008. № 11. – С. 2–10. – ISSN – 1684-6400.
9.Мосин, С. Г. Современные тенденции и технологии проектирования интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Информационные технологии. – 2009. № 1. – С. 28–33. – ISSN – 1684-6400.
10.Мосин, С. Г. Алгоритм размещения кристаллов интегральных схем на кремниевой пластине [Текст] / С. Г. Мосин // Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского. Серия Математическое моделирование и оптимальное управление. – 2010. № 1. – С. 190–195. – ISSN – 1993-1778.
11.Мосин, С. Г. Модель выбора оптимальной тестовой стратегии и условий тестирования ИС в процессе производства [Текст] / С. Г. Мосин // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. – 2010. № 1. – С. 8–12. – ISSN – 2073-0004.
12.Мосин, С. Г. Маршрут тестопригодного проектирования электронных устройств в САПР компании Mentor Graphics [Текст] / С. Г. Мосин // Программные продукты и системы. – 2010. № 1. – С. 65-68. – ISSN – 0236-235Х.
13.Мосин, С. Г. Маршрут тестопригодного проектирования заказных интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Проектирование и технология электронных средств. – 2010. – № 4. – С. 39-44. - ISSN 2071-9809.
14.Мосин, С. Г. Исследование модели выбора оптимальной тестовой стратегии для смешанных интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Вестник компьютерных и информационных технологий. – 2011. № 6. – С. 24-28. – ISSN – 1810-7206.
15.Мосин, С. Г. Методика тестопригодного проектирования аналого-цифровых схем [Текст] / С. Г. Мосин // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. – 2012. Т. 55. № 5. – С. 19-23. – ISSN – 0021-3454.
16.Мосин, С. Г. Тестирование аналоговых схем с использованием нейросете-вого сигнатурного анализатора [Текст] / С. Г. Мосин // Вестник информационных и компьютерных технологий. – 2012. № 10. – С. 3-8. – ISSN – 1810-7206.
17.Мосин, С. Г., О генерации диагностических тестов на основе таблиц трассировок [Текст] / С. Г. Мосин, А. А. Кряжев // Вестник Новосибирского государственного университета. Серия: Информационные технологии. – 2012. Том 10. Выпуск 4. – С. 57-62. – ISSN – 1818-7900.
18.Мосин, С. Г. Подход к выбору метода тестирования смешанных интегральных схем на основе стоимостной модели [Текст] / С. Г. Мосин // Управление большими системами. Выпуск 41. М.: ИПУ РАН. – 2013. – С. 344-356. – ISSN 1819-2440.
19.Мосин, С. Г. Структурное решение встроенного самотестирования аналоговых и смешанных ИС на основе реконфигурирования [Текст] / С. Г. Мосин // Промышленные АСУ и контроллеры. – 2013. № 3. – С. 30-34. – ISSN – 1561-1531.
Статьи в зарубежных рецензируемых изданиях
20. Mosin, S.G. Introduction to analog circuits testing and diagnosis [Text] / S. G. Mosin // Автоматизированные системы управления и приборы автоматики. Всеукраинский межведомственный научно-технический сборник. Выпуск 122, Харьков, 2003. – С. 104 – 119.
21.Мосин, С. Г. Подходы тестопригодного проектирования аналоговых интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Радиоэлектроника и информатика. – 2003. – №1. С. 49 –59. – ISSN 1563-0064.
22.Mosin, S. G. A Built-in Self-Test Circuitry Based on Reconfiguration for Analog and Mixed-Signal IC [Text] / S. G. Mosin // Information Technology and Control. – 2011. Vol. 40. No. 3. – P. 260 – 264. – ISSN 1392 – 124X.
23.Mosin, S. A New Opportunity of Using Sensitivity Function for Functional Testing [Text] / S. Mosin, V. Lantsov // 2nd Electronic Circuits and Systems Conference (ECS´01) : Conference Proceedings. – Slovakia : Bratislava, 2001.
24.Mosin, S. G. Behavioral description of electronic devices and its implementation in VHDL-AMS [Text] / S. G. Mosin, M. A. Trofimov, V. N. Lantsov // 8th Biennial Conf. on Electronics and Microsystems Technology (Baltic Electronics Conf.): Conference Proceedings. – Tallinn : Tallinn Techn. Univ., 2002. – P. 211–214. – ISBN 9985-59-292-1.
25.Mosin, S. G. Educational purpose CAD tool for testing and diagnosis of analog circuits: fault simulation [Text] / S. G. Mosin // Proc. of East-West Design and Test Conference. – Crimea, Ukraine, 2003. – P. 87 – 90.
26.Mosin, S. G. The Realization of Algorithmic Description on VHDL-AMS [Text] / S. G. Mosin, M. A. Trofimov // Proc. of Int. Conf. TCSET’04 : Conference Pro-ceedings. – Slavsko, Ukraine, 2004. – P. 350–353. – ISBN 966-553-380-0.
27.Mosin, S. G. The Tool for Training in the Area of Analogue Circuits Test and Diagnosis [Text] / S. G. Mosin // 11th Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : Conference Proceedings. – Szczecin, Poland, 2004. – P. 511–516. – ISBN 83-919289-7-7.
28.Mosin, S. G. TeDiAC: the CAD Tool for Studying Approaches to Test and Diagnosis of Analogue Circuits [Text] / S. G. Mosin // Proc. of 9th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology. Baltic Electronic Conference – BEC´2004. October 7-10, 2004, Tallinn, Estonia, 4 p.
29.Mosin, S. G. Neural Network-based Signature Classifier for Functional Testing of Analogue Circuits [Text] / S. G. Mosin // Proc. of 8th Conference the Experience of Designing and Application of CAD System in Microelectronics – CADSM’05, Lviv – Polyana, Ukraine, 2005. – P. 380 – 382.
30.Mosin, S. G. Extraction of Essential Characteristics of Analog Circuits’ Output Responses Required for Signature Analysis [Text] / S. G. Mosin // Proc. of IEEE East-West Design and Test Workshop (EWDTW’2005). – Odessa, Ukraine, 2005. – P. 269 – 270.
31.Mosin, S. G. Functional Testing of Analog Circuits Using Neural Network-Based Signature Analyser [Text] / S. G. Mosin // In Proc. 2nd International Radio Electronic Forum, Vol. III: Proc. of Intern. Conference Information Systems and Technologies (ICIST’2005). – Kharkov, Ukraine, 2005. – P. III-236 – III-239.
32.Mosin, S. G. A Neural Network-Based Functional Test Analyser for Analogue and Mixed-Signal Circuits [Text] / S. G. Mosin // In Proc. of 6th Electronic Circuits and Systems Conference (ECS´05). – Slovakia: Bratislava, 2005. – 4 p
33.Mosin, S. G. An Approach to Analogue Circuits Test Based on Application of Neural Network and Wavelet Decomposition [Text] / S. G. Mosin // In Proc. of International Conference “Electronics’05”, Sozopol, Bulgaria, 2005. – 6 p.
34.Mosin, S. G. A Neural Network Approach to Functional Test of Analogue Circuits [Text] / S. G. Mosin // Proc. of 12th Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES’2005). – Poland: Krakow, 2005. – P. 391 – 396.
35.Mosin, S. G. Neural Network-Based Technique for Detecting Catastrophic and Parametric Faults in Analog Circuits [Text] / S. G. Mosin // Proc. of IEEE 18th International Conference on System Engineering (ICSEng’2005). – Las Vegas, Nevada, USA, 2005. – pp. 224 – 229. – ISBN 0-7695-2359-5.
36.Mosin, S. G. Transient Functional Test of Analogue Circuits [Text] / S. G. Mosin // IEEE 10th European Test Symposium Informal Digest of Papers – ETS’05 : Symposium Proceedings. – Estonia : Tallinn, 2005. – P. 39–44.
37.Mosin, S. G. Design Flow of Custom Integrated Circuits Using Mentor Graphics CAD Tools [Text] / S. Mosin, V. Kuharuk // International Conference «Elec-tronics’06»: Conference Proceedings. – Sozopol, Bulgaria, 2006. – 6 p. – ISBN 954-438-565-7.
38.Mosin, S. G. Economics Modeling the DFT of Mixed-Signal Circuits [Text] / S. G. Mosin // Proc. of IEEE East-West Design and Test Workshop (EWDTW’2006). – Sochi, Russia, 2006. – P. 236 – 238. – ISBN 966-659-124-3.
39.Mosin, S. G. Selecting the Most Efficient DFT Techniques of Mixed-Signal Circuits Based on Economics Modeling [Text] / S. G. Mosin // Proc. of IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2007). – Yerevan, Armenia, 2007. – P. 158–161.
40.Mosin, S. G. The Features of Integrated Technologies Development in Area of ASIC Design [Text] / S. G. Mosin // Proc. of 9th Conference the Experience of Designing and Application of CAD System in Microelectronics – CADSM’07, Lviv – Polyana, Ukraine, 2007. – P. 292 – 295. – ISBN 966-533-587-0.
41.Mosin, S. G. The Model of Selecting Optimal Test Strategy and Conditions of ICs Testing During Manufacturing [Text] / S. G. Mosin // Proc. of IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2009). – Moscow, Russia, 2009. – P. 54 – 58.
42.Mosin, S. Technique of Optimal Built-In Self-Test Circuitries Generation [Text] / S. G. Mosin, N. V. Chebykina // Proc. of IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2010). – St.-Peterburg, Russia, 2010. – P. 145 – 148. – ISBN 978-1-4244-9555-9.
43.Mosin, S. Structural solution of reconfiguration based built-in self-test for analog and mixed-signal IC [Text] / S. G. Mosin // In Proc. of 12th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC’2010). Tallinn, October, 2010, pp. 141 – 144. – ISBN 978-1-4244-7357-1.
44.Mosin, S. G. Technique of LFSR Based Test Generator Synthesis for Deterministic and Pseudorandom Testing [Text] / S. G. Mosin, N. V. Chebykina, M. S. Serina // Proc. of 11th Conference the Experience of Designing and Application of CAD System in Microelectronics – CADSM’11, Polyana-Svalyava, Ukraine , 2011. – P. 128 – 131. – ISBN 978-1-4577-0042-2.
45.Mosin, S. A Subsystem for Automated Synthesis of LFSR-Based Test Generator for Deterministic and Pseudorandom Testing [Text] / S. G. Mosin, N. V. Chebykina, M. S. Serina // Proc. of IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2011). – Sevastopol, Ukraine, 2011. – P. 177 – 179.
46.Lantsov, V. N. Signature Analyzer and Classifier for Analog Circuits Diagnosis Based on Neural Network [Text] / V. N. Lantsov, O. V. Rudakov, S. G. Mosin // Proc. of 5th Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems. – Poland: Lodz, 1998. – P. 345 - 348.
Свидетельства о регистрации программ для ЭВМ
47.Мосин, С.Г. Подсистема расчета тестопригодности аналоговых схем. – Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2012610219 – М.: Роспатент, 2012.
48.Мосин, С.Г. Система схемотехнического проектирования аналоговых схем. – Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2012610220 – М.: Роспатент, 2012.
49.Мосин, С.Г. Система выбора оптимальной тестовой стратегии и условий тестирования интегральных схем. – Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2012661333 – М.: Роспатент, 2012.
Статьи в журналах, сборниках и трудах конференций
50. Мосин, С. Г. Методика мультичастотной функциональной диагностики аналоговых и смешанных интегральных микросхем [Текст] / С. Г. Мосин, B. Н. Ланцов // Алгоритмы, методы и системы обработки данных. – 2000. № 5. – C. 160-168. – ISSN – 2220-4229.
51. Mosin, S. G. The CAD Tool for Studying of Approaches to Analog Circuits Testing and Diagnosis [Text] / S. G. Mosin // Вестник ТГУ. Приложение. – 2004. – № 9 (I). – С. 168 – 173.
52. Мосин, С. Г. Выбор метода тестирования смешанных интегральных схем на основе экономической модели [Текст] / С. Г. Мосин // Вестник Костромского государственного университета им. Н.А. Некрасова. – 2008. Том 14. № 2. – С. 29 – 32.
53. Мосин, С. Г. Использование технологических библиотек в САПР компании Mentor Graphics при проектировании заказных ИС [Текст] / С. Г. Мосин, В. С. Ку- харук // Труды ВлГУ. – 2006. – № 1. – С. 81–85. – ISBN 5-89368-709-4.
54.Мосин, С. Г. Тестопригодное проектирование аналоговых и смешанных интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Современные информационные технологии. Информационно-измерительные и диагностические системы: Тр. междунар. науч.-техн. конф. - Пенза: Пензенский технологический ин-т, 2000. – С. 61 – 63.
55.Мосин, С. Г. Диагностика неисправностей в аналоговых ИС [Текст] / С. Г. Мосин // Теория, методы и средства измерений, контроля и диагностики: Тр. междунар. науч.-практ. конф. – Новочеркасск: Южно-Российский гос. техн. ун-т, 2000. – С. 7 – 8.
56.Мосин, С. Г. Разработка подсистем САПР РЭА в среде MATLAB [Текст] / С. Г. Мосин // Проектирование научных и инженерных приложений в среде MATLAB: Тексты докладов Всероссийской научной конференции. – Москва: ИПУ РАН, 2002. – С. 270 – 275.
57.Мосин, С. Г. Метод включающего выбора тестовых узлов в аналоговых схемах [Текст] / С. Г. Мосин // Новые методологии проектирования изделий микроэлектроники: Материалы Международной научно-технической Web-конференции. – Владимир: ВлГУ, 2002. С. 55–58.
58.Мосин, С. Г. Тестопригодное проектирование электронных устройств [Текст] / С. Г. Мосин // Новые методологии проектирования изделий микроэлектроники: Материалы 2-ой Международной научно-технической Web-конференции. – Владимир: ВлГУ, 2003. – С. 134–136.
59.Мосин, С. Г. Обучающая подсистема САПР тестопригодного проектирования аналоговых схем [Текст] / С. Г. Мосин // Проектирование научных и инженерных приложений в среде MATLAB: Труды Всероссийской научной конференции. – Москва: ИПУ РАН, 2004. – С. 245 – 261.
60.Мосин, С. Г. Тестирование аналоговых схем на основе нейронных сетей и вейвлет-преобразования [Текст] / С. Г. Мосин // Новые методологии проектирования изделий микроэлектроники: Материалы 3-й Международной науч.-техн. Web-конференции. – Владимир: ВлГУ, 2004. – С. 199 – 204.
61.Мосин, С. Г. Функциональное тестирование аналоговых схем: анализ выходных откликов [Текст] / С. Г. Мосин // Перспективные технологии в средствах передачи информации – ПТСПИ’2005: Материалы 6-й Международной науч.-техн. конференции. – Владимир: РОСТ, 2005. – С. 307 – 309.
62.Мосин, С. Г. Функциональное тестирование аналоговых схем: выбор контролируемых параметров [Текст] / С. Г. Мосин // Перспективные технологии в средствах передачи информации – ПТСПИ’2005: Материалы 6-й Международной научно-технической конференции. – Владимир: РОСТ, 2005. – С. 319 – 320.
63.Мосин, С. Г. Нейросетевой сигнатурный анализатор откликов аналоговых схем [Текст] / С. Г. Мосин // Электронная техника: Межвузовский сборник научных трудов / Под редакцией Д. В. Андреева. Ульяновск: УлГТУ, 2005, с. 81 – 88. – ISBN 5-89146-726-7.
64.Мосин, С. Г. Подход к тестированию аналоговых и смешанных ИС на основе реконфигурирования [Текст] / С. Г. Мосин // Физика и радиоэлектроника в медицине и экологии (ФРЭМЭ’2010). Труды 9-й международной научн.-техн. конференции с элем. научн. молодежной школы. – Владимир, 29 июня-2 июля, 2010. С. 349 – 352. – ISBN 978-5-904875-03-9.
65.Мосин, С. Г. Реализация внутрисхемного тестирования интегральных схем на основе реконфигурирования [Текст] / С. Г. Мосин // Материалы международной научно-технической конференции «Актуальные проблемы электронного приборостроения (АПЭП-2010)», Саратов, 22-23 сентября, 2010. – С. 379 – 382. – ISBN 978-5-9999-0531-4.
66.Mosin, S. G. Educational purpose CAD Tool for Training in the Area of Analogue Circuits Testing and Diagnosis [Text] / S. G. Mosin // in Proc. of Conference “In-formatics, Mathematical Modelling and Design in the technics, controlling and education” (IMMD’2004). – Vladimir, 2004. – P. 202– 207.