Капранов Борис Иванович

Капранов Борис Иванович, начал свою трудовую деятельность в Томском политехническом университете с 1962 г. лаборантом НИС, а затем , с 1968 г. переведён инженером НИИ ЭЙ. В 1972 г. переведён на должность старшего инженера, в 1973 г. - на должность руководителя группы, в 1975 г. - на должность зам. руководителя лаборатории, а в 1981 г. избран по конкурсу на должность заведующего лабораторией №82 НИИ ЭЙ.

В 1986 г. избран по конкурсу на должность доцента кафедры «Физические методы и приборы контроля качества».

В 1986 г.зачислен в очную докторантуру ТПУ, в 2002 г., после защиты докторской диссертации, зачислен по контракту на должность профессора кафедры ФМПК.

За время работы проявил себя как педагог, организатор учебного процесса и научных исследований. Капрановым Б.И. разработаны и читаются 3 курса для студентов кафедры ФМПК с учётом новых информационных технологий: компьютерные тренажёры, дистанционные курсы с использованием WEB технологий. Им издано 4 учебных пособия, одно из которых рекомендовано УМО для высших учебных заведений.

Капранов Б.И. ведёт большую научно-исследовательскую работу. Основное направление работ - использование обратно - рассеянного рентгеновского и гамма излучений для контроля объектов в условиях одностороннего доступа. Тема докторской диссертации - томография с использованием комптоновского обратного рассеяния. По результатам работ опубликовано более 60 научных трудов, получено 18 авторских свидетельств и патентов. Под его руководством создана серия приборов для контроля качества неметаллических материалов и покрытий, которые в настоящее время успешно используются на предприятиях аэрокосмической отрасли. За большой вклад в развитие технологий контроля награждён Президиумом Федерации космонавтики России медалью им. академика Макеева В.П.

Научными исследованиями под руководством Капранова Б.И. ежегодно занимаются выпускники кафедры ФМПК, аспиранты. Тематика исследований поддерживается грантами Российского фонда фундаментальных исследований.

---