RAE.RU
Энциклопедия
ИЗВЕСТНЫЕ УЧЕНЫЕ
FAMOUS SCIENTISTS
Биографические данные и фото 17373 выдающихся ученых и специалистов
Логин   Пароль  
Регистрация Забыли пароль?
 

Турьянский Александр Георгиевич

Научная тема: « РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФРАКТОМЕТРИЯ И ОТНОСИТЕЛЬНАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ СЛОИСТЫХ НАНОСТРУКТУР »

Научная биография   « Турьянский Александр Георгиевич »

Членство в Российской Академии Естествознания

Специальность: 01.04.05

Год: 2009

Отрасль науки: Физико-математические науки

Основные научные положения, сформулированные автором на основании проведенных исследований:

  1. Тонкопленочные текстуры из высокоориентированного пиролитического графита (ВПГ) являются новым типом полупрозрачных рентгеновских монохроматоров. Дифракционные свойства пленок ВПГ описываются в рамках статистической динамической теории рентгеновского рассеяния для гауссовой корреляционной функции угла поворота кристаллических блоков. Структуры эшелонного типа на основе ВПГ представляют собой эффективную систему управления шириной полосы рентгеновского спектра и селекции заданного набора спектральных полос.
  2. Относительная рентгеновская рефлектометрия - новый метод определения параметров слоистых наноструктур. Основные преимущества относительного метода - повышение точности определения комплексной диэлектрической проницаемости е отражающей среды и чувствительности к слабым возмущениям е.
  3. Угловые диаграммы рефракции рентгеновского излучения в пленочных структурах удовлетворительно описываются в рамках приближения плоских волн с экспоненциально меняющейся амплитудой в плоскости волнового фронта. Основными факторами, определяющими вид угловой диаграммы рефракции в пленочных структурах, являются: взаимодействие волн, рассеянных на дефектах поверхности и зеркально отраженных на границах раздела, фотопоглощение в материале пленки. В слабо поглощающих пленках доминирующими факторами являются каналирование излучение в пленочной структуре и резкая угловая анизотропия коэффициента отражения.
  4. Параметры наноразмерной слоистой структуры, образующей рентгенооптический барьер, могут быть определены путем прямой регистрации потока рентгеновских фотонов, туннелирующих через барьер. При этом достигается предельное пространственное разрешение измерений, которое определяется величиной коэффициента фотоэлектрического поглощения в подложке.
  5. Призменные структуры на основе оптически полированных монокристаллов из материалов с низким атомным номером - новый тип диспергирующих систем высокого разрешения для анализа рентгеновских спектров. Энергетическое разрешение призменного рентгеновского спектрометра ограничено дифракционным пределом, обусловленным фотопоглощением излучения в материале призмы. Призменная спектрометрия обеспечивает возможность измерения тонкой структуры спектров направленных рентгеновских пучков по единичному импульсу, а также исследование поляризационных эффектов. Указанные аналитические возможности могут быть использованы при исследовании быстропротекающих процессов возбуждения и релаксации и по существу не имеют альтернативы.

Список опубликованных работ

1. А.В. Виноградов, Н.Н. Зорев, И.В. Кожевников, С.И. Сагитов, А.Г. Турьянский. «О рассеянии рентгеновского излучения слабошероховатыми поверхностями». Журнал экспериментальной и теоретической физики, т. 94 (1988) с. 203-16.

2. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. "Рентгеновский эшелон-монохроматор из пиролитического графита". Приборы и техника эксперимента, № 5 (1998) с.118-122.

3. А.Г. Турьянский, А.В. Виноградов, И.В. Пиршин. "Двухволновой рентгеновский рефлектометр". Приборы и техника эксперимента, № 1, (1999) с.105-111.

4. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. "Рентгеновская рефрактометрия поверхностных слоев". Приборы и техника эксперимента, № 6, (1999)

с.104-111.

5. В.И. Козловский, А.Б. Крыса, Ю.Г. Садофьев, А.Г. Турьянский. "Эпитаксиальные слои ZnTe и квантовые ямы CdZnTe/ZnTe, выращенные молекулярно-пучковой эпитаксией на подложках GaAs (100) с использованием твердофазной кристаллизации аморфного слоя ZnTe". Физика и техника полупроводников, т. 33, вып. 7 (1999) 810-14.

6. R.M. Feshchenko, I.V. Pirshin, A.G. Touryanski, A.V. Vinogradov. "New Methods of X-Ray Reflectometry of Solids and Thin Solid Films". Journal of Russian Laser Research. Vol. 20, No. 2, 1999, pp. 136-151.

7. Ya.I. Nesterets, V.I. Punegov, I.V. Pirshin, A.G. Touryanski, A.V. Vinogradov, E. Foerster, S.G. Podorov. "Application of Statistical Dynamical Theory of X-Ray Diffraction to Calculation of the HOPG

Echelon-Monochromator parameters". Phys. Stat. Solidi (a), v. 179 (2000) p. 311.

8. A.G.Touryanski, A.V.Vinogradov, I.V.Pirshin. "Two-channel X-ray reflectometer". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A 448 (2000) 184-187.

9. Турьянский А.Г., Пиршин И.В. "Метод получения сверхтонких рентгеновских пучков". Приборы и техника эксперимента, № 5 (2000) с. 90-96.

10. Турьянский А.Г., Пиршин И.В. "Полупрозрачный рентгеновский монохроматор решетчатого типа". Приборы и техника эксперимента, № 4 (2000) с. 117-122

11. Турьянский А.Г., Пиршин И.В., Хмельницкий Р.А. "Разложение рентгеновского спектра в диапазоне энергии ~10 кэВ путем рефракции на полированной пластине алмаза". Краткие сообщения по физике ФИАН. № 4 (2000), с. 40-44.

12. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, Р.А. Хмельницкий, А.А. Гиппиус. "Дисперсионные характеристики алмаза в жестком рентгеновском диапазоне длин волн". Физика твердого тела, т. 43, №4 (2001) с. 619-26.

13. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, Р.А. Хмельницкий, А.А. Гиппиус. "Определение рентгеновского спектра по угловой дисперсии излучения в алмазной призме". Письма в ЖЭТФ, т.73, вып. 9 (2001) с. 517.

14. A.G. Touryanski, I.V. Pirshin, M. A. Rzaev, F. Schaffler, M. Muhlberger. Two-wave X-ray optical diagnostics of GexSi1-x/Si modulation- doped heterostructures. Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures. Vol: 13 (2-4) 2002 pp.1063 - 1065.

А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. "Рентгеновский рефрактометр", Приборы и техника эксперимента, № 2 (2001), 109-117.

15.Touryanski, Alexander G.; Pirshin, Igor V.; Vinogradov, Alexander V.; Publicover, Nelson G.; Kantsyrev, Victor L.; Grigorieva, Inna G.; Antonov, Alexander A. "Semitransparent monochromators for x-ray imaging based on highly oriented pyrolytic graphite (HOPG)". Proc. SPIE. Penetrating Radiation Systems and Applications. III. Vol. 4508, (2001) p. 58-64.

16. Бессонов Е.Г., Виноградов А.В., Турьянский А.Г. «Лазерно-электронный источник рентгеновского излучения для медицинских применений». Приборы и техника эксперимента, №5 (2002) с.142-48.

17. A.G. Touriyanski, I.V. Pirshin, N.L. Popov, YuA. Uspenski, A.V. Vinogradov. "Relative X-Ray Reflectometry for Characterization of Nanostructures". Proceedings of the 5th ISTC Seminar Nanotechnologies in the Area of Physics, Chemestry and Biotechnology. S-Petersburg, Russia,

May 27-29, 2002, pp 316-20.

18. Н.Л. Попов, Ю.А. Успенский, А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, А.В. Виноградов, Ю. А. Платонов. «Определение параметров многослойных структур с помощью двухволновой рентгеновской рефлектометрии». Физика и техника полупроводников, т. 37, №6 (2003)с. 675-80.

19. Н.Л. Попов, Ю.А. Успенский, А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, А.В. Виноградов. "Определение шероховатости сверхгладких поверхностей с помощью двухволновой рентгеновской рефлектометрии". Поверхность, №9 (2003) с.11-16.

20. Е.Г. Бессонов, А.В. Виноградов, М.В. Горбунков, А.Г. Турьянский, Р.М. Фещенко, Ю.В. Шабалин. "Лазерно-электронный источник рентгеновского излучения для медицинских применений". Успехи физических наук, т. 173, №8 (2003) с. 899-903.

21. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. "Методы регистрации разностных рентгеновских проекций". Приборы и техника эксперимента, №4 (2003) с. 100-115.

22. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин, Д.В. Белянский. «Измерение рентгеновских спектров поглощения методом призменной спектрометрии». Письма в ЖЭТФ, том 79, вып.9 (2004) с. 504-506.

23. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. «Туннелирование рентгеновских фотонов через тонкую пленку в условиях полного внутреннего отражения». Письма в ЖЭТФ, том 81, вып. 10 (2005) с.610-13.

24. A.G. Touriyanski, O.M. Matveeva, N.Yu. Narimanova, I.V. Pirshin. "X-ray optical projection microscope based on policapillary Kumakhov optics". Proc. SPIE. X-Ray and Neutron Capillary Optics II. Vol. 5943, (2004) p. 275-83.

25. A.G. Touriyanski, N.N. Gerasimenko, S.A. Aprelov, I.V. Pirshin, A.I. Poprygo, V.M. Senkov. "Investigation of ion-implanted layers by X-ray reflectometry". Proc. SPIE. X-Ray and Neutron Capillary Optics II. Vol. 5943, (2004) p. 143-49.

26. А.Г. Турьянский, С.А. Апрелов, Н.Н. Герасименко, И.В. Пиршин, В.М. Сенков. «Относительная рентгеновская рефлектометрия дискретных слоистых структур». Письма в ЖТФ, т. 33, №5 (2007) с. 87¬94.

27. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. «Наблюдение полного внешнего отражения рентгеновского излучения от границы раздела жидкость - твердое тело». Письма в ЖЭТФ, том 85, вып. 9 (2007) с. 520-23.

28. С.А.Апрелов., Н.Н. Герасименко, А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин В.М. Сенков. «Контроль параметров дискретных слоистых наноразмерных структур». Российские нанотехнологии, т.2. вып. 3-4 (2007) 130-33.

29. А.Г. Турьянский, А.В. Виноградов, И.В. Пиршин. "Рентгеновский рефлектометр". Патент РФ №2104481, МКИ G01B 15/08 (1998).

30. А.Г. Турьянский, Л.В. Великов, А.В. Виноградов, И.В. Пиршин. "Рентгеновский рефлектометр". Патент РФ № 2129698, МКИ G01B

15/00 (1998).

31. A.G. Touryanski, A.V. Vinogradov, I.V. Pirshin. "X-ray reflectometer". Patent no. 6041098, US Cl. 378-70. (Official Gazette March 21, 2000, p. 2960).

32. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. "Рентгеновский рефлектометр", Патент РФ № 2166184, G01B 15/08, (2001).

33. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. "Рентгеновский рефлектометр", Патент РФ № 2176776, G01B 15/00 (2001).

34. А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. "Рентгеновский монохроматор", Патент РФ № 2181198 G01N 23/20 (2002).

35. А.Г. Турьянский. «Способ контроля содержимого объектов и устройство для его осуществления». Патент РФ № 2217732, МКИ G01N

23/04 (2003).

36. М.А. Кумахов, А.Г. Турьянский, И.В. Пиршин. Коллимационное устройство. Патент РФ № 2241977, G01N 23/20, (2004).